L’alumne Àlex Sánchez de 1r de batxillerat d’Arts ha quedat finalista en l’edició EFIM 2019 amb la fotografia titulada “A punt per l’abraçada“ presa al Museu Nacional d’Art de Catalunya de Barcelona.
L’EFIM (Experiència Fotogràfica Internacional dels Monuments) és un concurs internacional l’objectiu del qual és donar a conèixer el patrimoni cultural de Catalunya a través de la fotografia.
Podeu consultar més informació al següent enllaç http://culturaeducacio.gencat.cat/efim/.
Enhorabona Àlex!
